系统概述：

使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

功能特点：

参数查看，快速清晰

4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。

• ·内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

• ·使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

• ·自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

  

测量、 切换、 重复

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

• ·无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

• ·用户可配置低电流功能

• ·个性化输出通道名称

·查看实时测试状态

检定、 自定义、 最大化

• 简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。

• ·NBTI/PBTI 测试

• ·随机电报噪声

• ·非易失内存设备

• ·稳压器应用测试

  

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

• ·“点击”测试定序

• ·“手动”探测器模式测试探测器功能

• · 假探测器模式无需移除命令即可实现调试

  

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